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RHK 超高真空扫描探针显微镜系统
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美国
RHK Technology
成
立于 1981 年。作为 SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK-Technology
始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与优秀的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与世界著名
科学家的紧密合作，二十多年来 RHK Technology 源源不断地向全世界科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。
超高真空 Beetle式 变温扫描探针显微镜 - UHV VT STM/AFM
UHV STM/AFM 系统
完整的超高真空 AFM/STM 系统，具有扫描速度快；震动隔离采用气柱或者弹簧方式；具有自动化程度高的特点。
UHV STM/AFM子系统 超高真空 STM/AFM 首选子系统；样品变温范围从小于 25 K 到大于 1500 K；配有震动隔离系统；原位针尖替换与转移；易于与其他设备连接，从而构建多腔体 SPM 系统。 
扫描探针显微镜表面分析系统
此系列的产品完美结合了 RHK SPM 与 Specs 生产的表面分析设备。可以进行多种表面分析操作；操作简单、实验结果精确。超高真空Beetle式变温变磁场系统 - UHV VT VMF STM/AFM 
VMF系列扫描探针显微镜系统将变磁场环境引入到表面科学研究与实验中，无需制冷装置，即可实现0~10000Gauss面内连续可变磁场环境，在变磁场环境中，AFM/STM的功能和性能不受任何影响；样品的变温范围从25K~1500K。
更多信息......超高真空低温四探针表面分析系统 - UHV LT QuadraProbe 
QuadraProbe四探针表面分析系统保证了样品和四个STM探针都在10K下长时间稳定 工作，每个探针的分辨率都达到了原子级分辨。在四个探针上方配有高分辨的SEM，用于对探针的粗定位与导航。样品分析室中还选配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司将最先进的R9控制器配置到四探针系统中，用户可以非常方面的实现对四个探针的独立控制。
更多 信息......RHK公司产品简介 （2.57M）
