UHV PAN式低温扫描探针显微镜系统

设备简介
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	Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点包括： - PAN STM/AFM扫描头体积极小（2.96”X1.55”) -集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mmX5mmX10mm）- 工作温度包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围 -内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针尖与样品更换 - 兼容多种Flow式或Bath式低温恒温器与磁体- 与RHK最新全数字R9控制器一同使用适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。

主要技术参数:


- 工作模式：STM与非接触式AFM	- 扫描范围：5umX5um （RT）
- 温度范围：<300mK; RT; VT; HT	- 样品尺寸：10mmX10mm
- X-Y-Z位移范围：5mmX5mmX10mm	- 扫描头尺寸：40mmX70mm

结构紧凑，体积极小：内置减震系统、可水平或垂直放置

Pan式低温扫描探针显微镜结构极其紧凑，核心部分尺寸在~40X70mm左右；内置有弹簧和涡流阻尼减震系统；根据用户的要求，可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种；初次之外，它兼容常用的低温恒温器和磁体，并提供相应的集成方案。

原位样品与探针更换 ：

操做简单、快速；性能可靠

在低温和超高真空环境中，样品和针尖的原位更换一直是使用者非常关心的问题。为此，RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针尖更换装置，并提供了多个样品与针尖的放置室。

Pan式低温扫描探针显微镜中使用的样品架灵活多样，可充分满足各种实验要求，如原位加热、样品剥离、样品轰击等等；同时，它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配备的样品架。